怎么買劃算 固態(tài)硬盤和機(jī)械硬盤大PK

功耗溫度測試:測試方法介紹
來源:PCHOME 更新日期:2010-10-12 作者:孫偉
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    就和性能測試要給出測試軟件以及相關(guān)硬件參數(shù)一樣,溫度測試則要給出測試環(huán)境。我們這次的測試在開放的環(huán)境中進(jìn)行,參測硬盤并沒有放置在機(jī)箱的硬盤倉位中。當(dāng)然受限于SATA數(shù)據(jù)線和電源線的長度,參測硬盤也不會離機(jī)箱太遠(yuǎn)。因此,本次測試的成績會比實(shí)際使用中低一些。當(dāng)然,他們之間的差異顯然是我們這次所更為關(guān)注的。

    本次我們所使用的測試平臺如下,相比前幾次有了略微的變化,但是并不會對最終的對比成績有太多影響。此外,本次測試也并沒有使用太多的關(guān)于能耗比的測試軟件,畢竟真實(shí)的應(yīng)用環(huán)境測得的數(shù)據(jù)來得更加直觀。

    只要平臺固定,功耗測試可以很簡單地進(jìn)行。這次測試使用了一臺家用“電腦測試儀”,它可以很好地顯示出當(dāng)前整機(jī)的功率。不過限于電源的穩(wěn)定性以及系統(tǒng)狀態(tài),功率總會出現(xiàn)一定程度的波動,因此本次進(jìn)行的功耗測試也僅供參考。

    至于測試計(jì)劃,給出各個硬盤在限制和滿載時的溫度和功耗結(jié)果自然是最簡單的。事實(shí)上這只是一個靜態(tài)的參考值。為了更加真實(shí)并準(zhǔn)確地反映出幾種硬盤在溫度方面的表現(xiàn),筆者采用了跟蹤測試,并最終通過折線圖的方式給出結(jié)果。

   

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