近日,泛半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)創(chuàng)新型企業(yè)創(chuàng)銳光譜宣布完成近億元PreA輪融資,由光速光合領(lǐng)投,老股東君聯(lián)資本跟投,指數(shù)資本擔(dān)任獨(dú)家財(cái)務(wù)顧問(wèn)。融資資金將主要用于技術(shù)研發(fā)和產(chǎn)能擴(kuò)容。
創(chuàng)銳光譜成立于2016年,是全球領(lǐng)先的瞬態(tài)光譜技術(shù)產(chǎn)業(yè)化企業(yè),立足瞬態(tài)光譜技術(shù),建立了從基礎(chǔ)科學(xué)研究到泛半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域的全系列產(chǎn)品。歷經(jīng)多年的技術(shù)積累與深度耕耘,創(chuàng)銳光譜在光譜學(xué)系統(tǒng)、激光器、OPO、探測(cè)器、自動(dòng)化等關(guān)鍵技術(shù)和核心組件及軟件與運(yùn)動(dòng)控制算法等方面均實(shí)現(xiàn)自研。
創(chuàng)銳的科研產(chǎn)品線(xiàn)包括超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、超快瞬態(tài)吸收顯微成像、納秒瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、閃光光解系統(tǒng)等,其產(chǎn)品成功打破歐美等巨頭壟斷,目前已進(jìn)入國(guó)內(nèi)外近百所高校和研究機(jī)構(gòu),超快光譜系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)國(guó)內(nèi)市占率第一;在化合物半導(dǎo)體檢測(cè)產(chǎn)品領(lǐng)域,創(chuàng)銳光譜構(gòu)建了從襯底到外延的一站式檢測(cè)方案;在泛半導(dǎo)體其他領(lǐng)域,已實(shí)現(xiàn)鈣鈦礦光伏面板、第二代半導(dǎo)體晶圓、芯片和MicroLED等多個(gè)不同場(chǎng)景檢測(cè)技術(shù)和設(shè)備的落地,不斷拓寬市場(chǎng)和技術(shù)的邊界。
創(chuàng)銳光譜CEO陳俞忠博士表示,近一年來(lái)創(chuàng)銳光譜在SiC晶圓缺陷檢測(cè)方面取得了巨大的技術(shù)突破,成功開(kāi)發(fā)了襯底/外延位錯(cuò)缺陷無(wú)損檢測(cè)、點(diǎn)缺陷檢測(cè)、高速載流子壽命檢測(cè)等多種專(zhuān)用設(shè)備,在全球范圍內(nèi)首次解決了SiC襯底位錯(cuò)缺陷無(wú)損檢測(cè)的世界性難題,該突破性技術(shù)也不斷得到行業(yè)認(rèn)可,相關(guān)DiSpec系列檢測(cè)設(shè)備已實(shí)現(xiàn)全球首套落地,并同步發(fā)運(yùn)國(guó)際和國(guó)內(nèi)頭部客戶(hù)。
本輪融資后,創(chuàng)銳光譜將持續(xù)加大研發(fā)投入力度,加速推進(jìn)SiC晶圓缺陷檢測(cè)、鈣鈦礦光伏面板檢測(cè)等多種工業(yè)檢測(cè)產(chǎn)品的市場(chǎng)導(dǎo)入, 實(shí)現(xiàn)批量出貨目標(biāo)。
“一代材料,一代工藝,一代檢測(cè)”是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)歷來(lái)的發(fā)展邏輯,新檢測(cè)技術(shù)是推動(dòng)新材料和新工藝落地的關(guān)鍵利器。然而,在化合物半導(dǎo)體加速發(fā)展的大趨勢(shì)下,同時(shí)具備高效率、低成本,且能覆蓋晶格結(jié)構(gòu)和化學(xué)等多種缺陷的檢測(cè)方式,尚屬空白狀態(tài):主流前道檢測(cè)技術(shù)中,光學(xué)檢測(cè)(AOI、CIM、明暗場(chǎng)等)可以實(shí)現(xiàn)宏觀(guān)物理缺陷的快速、無(wú)損檢測(cè),但對(duì)微觀(guān)晶格缺陷沒(méi)有檢測(cè)能力;常規(guī)譜學(xué)檢測(cè)(XRD、非線(xiàn)性光學(xué)、XRT等)的檢測(cè)速度有限,且成本較高、操作復(fù)雜。
瞬態(tài)光譜技術(shù)與其他類(lèi)型檢測(cè)有著本質(zhì)區(qū)別,通過(guò)Pump光源使被測(cè)物體進(jìn)入激發(fā)態(tài),在材料的動(dòng)態(tài)過(guò)程和分布上表征多種結(jié)構(gòu)和化學(xué)缺陷信息,從而實(shí)現(xiàn)泛半導(dǎo)體材料關(guān)鍵缺陷檢測(cè)的革命性突破。
當(dāng)前,SiC材料已進(jìn)入降本增效、“拼質(zhì)量”階段,瞬態(tài)光譜技術(shù)填補(bǔ)了關(guān)鍵缺陷檢測(cè)技術(shù)的空白,為SiC晶圓生產(chǎn)帶來(lái)巨大價(jià)值。同時(shí),該技術(shù)可實(shí)現(xiàn)無(wú)損、高速率、極高準(zhǔn)確性,這將推動(dòng)整條產(chǎn)業(yè)鏈實(shí)現(xiàn)SiC襯底“片片檢”。此外,其底層技術(shù)能夠復(fù)用于科研場(chǎng)景、GaN外延檢測(cè)、鈣鈦礦電池檢測(cè)等場(chǎng)景,可觸達(dá)市場(chǎng)空間超過(guò)百億。
創(chuàng)銳光譜CEO陳俞忠博士表示,指數(shù)資本關(guān)注半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)多年,對(duì)各類(lèi)細(xì)分的檢測(cè)設(shè)備做過(guò)深入研究,能夠從資本市場(chǎng)的角度,既快又準(zhǔn)地梳理出創(chuàng)銳光譜的行業(yè)生態(tài)位。他們制作的交易材料專(zhuān)業(yè)、精準(zhǔn)、亮點(diǎn)突出,對(duì)融資進(jìn)度的把控經(jīng)驗(yàn)十足,本輪融資在效率和結(jié)果上都大大超出預(yù)期。
指數(shù)資本副總裁蔡鵬程認(rèn)為,新型檢測(cè)技術(shù)是推進(jìn)新型材料和工藝技術(shù)落地的關(guān)鍵抓手。創(chuàng)銳團(tuán)隊(duì)在瞬態(tài)光譜技術(shù)領(lǐng)域沉淀20年,包含激光器在內(nèi)的多種核心部件均自主研發(fā),稀缺性極強(qiáng)。2024年是創(chuàng)銳在泛半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)大規(guī)模突破的元年,我們欣喜地看到,創(chuàng)銳在海內(nèi)外頭部客戶(hù)實(shí)現(xiàn)突破,作為創(chuàng)銳光譜的獨(dú)家財(cái)務(wù)顧問(wèn),我們很高興能陪伴公司順利完成本輪的融資,未來(lái)我們也將繼續(xù)陪伴創(chuàng)銳持續(xù)成長(zhǎng)!
光速光合執(zhí)行董事郭斌表示,創(chuàng)銳光譜集結(jié)了中科院、浙江大學(xué)、埃默里大學(xué)等多家世界頂級(jí)學(xué)府及科研院所的專(zhuān)家團(tuán)隊(duì),深耕工業(yè)界極為稀缺的瞬態(tài)光譜檢測(cè)技術(shù)。公司以科研市場(chǎng)為依托,開(kāi)創(chuàng)性地開(kāi)發(fā)出具有生產(chǎn)指導(dǎo)價(jià)值的新型高端檢測(cè)設(shè)備,同時(shí)突破現(xiàn)有光學(xué)檢測(cè)手段的能力邊界,有效延伸到碳化硅功率器件、鈣鈦礦光伏組件、MicroLED顯示面板等高端制造領(lǐng)域,顯著促進(jìn)了幾大新興領(lǐng)域的商業(yè)化進(jìn)程。尤其在碳化硅領(lǐng)域,已成功向國(guó)內(nèi)外龍頭企業(yè)交付了全球范圍內(nèi)首臺(tái)套該類(lèi)型的高端檢測(cè)設(shè)備,樹(shù)立了行業(yè)標(biāo)桿。此外,經(jīng)過(guò)多年技術(shù)積淀,公司成功實(shí)現(xiàn)在激光器、探測(cè)器等關(guān)鍵零部件完全自主化生產(chǎn),打破了國(guó)外巨頭的供應(yīng)鏈壟斷,構(gòu)建了極深的行業(yè)護(hù)城河。
君聯(lián)資本創(chuàng)銳光譜項(xiàng)目負(fù)責(zé)人施立成表示,當(dāng)前,SiC材料已進(jìn)入降本增效、“拼質(zhì)量”階段,創(chuàng)銳光譜團(tuán)隊(duì)利用多年積累的瞬態(tài)光譜技術(shù)填補(bǔ)了SiC關(guān)鍵缺陷檢測(cè)的空白,為SiC晶圓生產(chǎn)帶來(lái)巨大價(jià)值。同時(shí),該技術(shù)可實(shí)現(xiàn)無(wú)損、高速率、極高準(zhǔn)確性,這將推動(dòng)整條產(chǎn)業(yè)鏈實(shí)現(xiàn)SiC襯底“片片檢”。此外,其底層技術(shù)能夠復(fù)用于科研場(chǎng)景、GaN外延檢測(cè)、鈣鈦礦電池檢測(cè)等場(chǎng)景,可觸達(dá)市場(chǎng)空間超過(guò)百億。