立刻將硬盤(pán)翻過(guò)來(lái),測(cè)最熱的硬盤(pán)主控芯片溫度 39.2度(因?yàn)橛脖P(pán)電路板為反裝,無(wú)法直接測(cè)量芯片溫度,只能測(cè)試芯片背面散熱覆銅板的溫度)
再測(cè)試機(jī)器抽取架內(nèi)的溫度 39.5度(與硬盤(pán)電路板溫度相互一致)
將機(jī)器翻過(guò)來(lái),測(cè)試機(jī)器底殼溫度 37.3度,略微高于機(jī)器頂面溫度,因?yàn)橘N近桌面,不如頂面好散熱。
立刻將硬盤(pán)翻過(guò)來(lái),測(cè)最熱的硬盤(pán)主控芯片溫度 39.2度(因?yàn)橛脖P(pán)電路板為反裝,無(wú)法直接測(cè)量芯片溫度,只能測(cè)試芯片背面散熱覆銅板的溫度)
再測(cè)試機(jī)器抽取架內(nèi)的溫度 39.5度(與硬盤(pán)電路板溫度相互一致)
將機(jī)器翻過(guò)來(lái),測(cè)試機(jī)器底殼溫度 37.3度,略微高于機(jī)器頂面溫度,因?yàn)橘N近桌面,不如頂面好散熱。